Кинетика электрического разрушения некоторых титаносодержащих керамик

На плоских образцах из двух титаносодержащих сегнетокерамик ВС-1 и Т-8000 измерены зависимости электрической долговечности $\tau$ (времени от момента приложения постоянного напряжения до пробоя) от напряженности электрического поля $E$ и зависимости пробивной напряженности поля $E_{\text{пр}}$ от скорости подъема напряженности поля $\dot{E}$ при различных температурах. Установлено, что зависимости $\lg\tau(E^{-1})$ и $E^{-1}_{\text{пр}}(\lg\dot{E})$ являются линейными и не зависят от температуры. Показано хорошее соответствие этих зависимостей друг другу для каждой керамики. Сделано заключение о кинетической природе электрического разрушения керамик, обусловленной накоплением объемных зарядов за счет туннельного инжектирования электронов из металлических электродов.