Осциллирующая зависимость интенсивности рентгеновского рефлекса от амплитуды возбужденного в кристалле ультразвука

Экспериментально показано, что интегральная интенсивность рентгеновского рефлекса осциллирует в зависимости от амплитуды $W$ возбужденного в кристалле ультразвука с длиной волны $\lambda_{S}$, меньшей экстинкционной длины $\tau$. Период осцилляций ${\Delta({\mathbf HW})=2\tau/T}$, где ${\mathbf H}$ — вектор дифракции, $T$ — толщина кристалла. Колебания интенсивности обусловлены эффектом экстинкционных биений на сателлитах основного отражения. Контраст осцилляций максимален при ${\lambda_{S}\lesssim\tau}$.