Ползучесть кристаллов LiF при малой степени деформации в интервале температур 1.6$-$300 K

Показано, что на начальной стадии пластической деформации ползучесть кристаллов LiF описывается логарифмическим временным законом ${\gamma=\alpha\ln(\nu t+1)}$. Коэффициент $\alpha$ уменьшается с понижением температуры в области 300 K и при ${T< 10}$ K, но в широком диапазоне температур от 150 до 10 K практически не изменяется. Анализ температурной зависимости предела текучести $\tau_{0}(T)$ и активационного объема $V(T)$ указывает на термоактивируемый характер ползучести, определяемый взаимодействием дислокаций с локальными дефектами решетки. При гелиевых температурах возможно влияние рельефа Пайерлса на подвижность дислокаций. Наблюдаемые в интервале (100$-$200) K особенности на зависимостях $\tau_{0}(T)$ и $V(T)$ могут быть связаны с образованием упорядоченной атмосферы примесных дефектов в упругом поле подвижных дислокаций (индуцированный эффект Снука). Влияния квантовых свойств дислокаций на ползучесть кристаллов LiF не обнаружено.