Аннотация:
Методом избирательного травления с использованием электронного микроскопа изучалось влияние знака деформации и его смены на плотность краевых компонент дислокаций и распределение краевых дислокационных диполей по размерам в кристаллах LiF. Установлено, что плотности краевых компонент дислокаций в кристаллах, деформированных растяжением и сжатием, одинаковы. Не зависит от знака деформации и характер распределения краевых диполей. При смене знака деформации происходит уменьшение плотности краевых компонент дислокаций и изменение характера распределения диполей. Полученные результаты объясняются, исходя из общей модели дипольного характера дислокационной структуры, возникающей в результате пластического деформирования кристаллов.