Влияние температуры деформации на изменение плотности кристаллов LiF

Термоградиентным методом изучалось изменение плотности кристаллов LiF после их деформации при температурах 293, 77 и 4.2 K. Установлено, что дефект плотности деформированных кристаллов с понижением температуры возрастает (примерно на порядок при переходе от 293 к 4.2 K), хотя вид зависимости его от деформации и напряжений течения сохраняется. Считается, что экспериментальные результаты могут быть объяснены на основе модели генерации вакансий ступеньками движущихся винтовых дислокаций. Показано, что изменение плотности за счет превращения малых дислокационных диполей в микротрещины может составлять не более 20% экспериментально наблюдаемого эффекта.