Аннотация:
Исследована изотермическая релаксация электретного состояния (ЭС) аморфного оксида тантала. Показано, что релаксация ЭС в основном обусловлена электропроводностью оксида. Противоречие между реальным временем жизни таких электретов (годы) и рассчитанным с учетом величины удельной проводимости, полученной из независимых электрических измерений (часы), удалось преодолеть в рамках прыжковой модели электропроводности в предположении об уменьшении концентрации носителей заряда в объеме оксида. Получены, аналитические выражения, которые удовлетворительно описывают изотермический спад поверхностного потенциала оксида тантала в широком временном интервале.