Электронно-дырочный механизм уширения спектральной линии. Температурный эффект

Вычислена температурная зависимость ширины спектральной линии для локального колебания при электронно-дырочном механизме уширения. Показано, что основной температурный вклад возникает в четвертом порядке ряда теории возмущений. Этот вклад пропорционален температуре и связан с дефазировкой колебаний за счет упругих столкновений с электронами металла.