Фазовые превращения и реверсивная оптическая запись в тонких пленках Te$_{81}$Ge$_{15}$As$_{4}$

Исследовалось изменение пропускания и отражения тонких пленок Te$_{81}$Ge$_{15}$As$_{4}$ при термическом и оптическом воздействии на них.
Термическая обработка пленок выявляет две области изменения оптических свойств: низкотемпературную ($70{-}130^{\circ}$С) с уменьшением пропускания в 2 раза и слабым уменьшением отражения и высокотемпературную ($240{-}270^{\circ}$С) с уменьшением пропускания еще в 5 раз и увеличением отражения в 2 раза. Оптическое импульсное воздействие (${\lambda=0.51}$ мкм) также приводит к двум типам превращений: облучение короткими импульсами (1 мкс $\leqslant\tau\lesssim10^{4}$ мкс) вызывает потемнение и небольшое уменьшение отражения, а облучение длинными импульсами (${\tau\gtrsim0.1}$ с) приводит к значительному увеличению отражения и сильному потемнению.
Благодаря существованию двух температурных областей изменения оптических свойств пленок Te$_{81}$Ge$_{15}$As$_{4}$ на их основе можно осуществлять два варианта реверсивной записи.