Электрон-деформационное взаимодействие и пьезоспектроскопические характеристики кристалла LiTmF$_{4}$

Измерены пьезоиндуцированные расщепления дублетных уровней Тm$^{3+}$ и определены параметры взаимодействия локализованных $4f$-электронов с деформациями $B_{g}$-симметрии в тетрагональных кристаллах LiLuF$_{4}$ : Tm$^{3+}$ и LiTmF$_{4}$. Различие параметров электрон-деформационного взаимодействия в примесном и регулярном кристаллах интерпретируется как результат влияния косвенного взаимодействия между редкоземельными ионами через поле фононов на упругие свойства решетки LiTmF$_{4}$. Температурная зависимость расщепления дублета $\Gamma^{1}_{34}~({}^{3}H_{6})$ подтверждает теоретическую модель.