Оптическое зондирование распределения магнитного поля у поверхности ВТСП

Предложен оптический метод измерения локального распределения напряженности магнитного поля на поверхности сверхпроводников и магнетиков. Метод основан на использовании эффекта оптической ориентации спинов электронов в полупроводнике, позволяющего сочетать высокую чувствительность к магнитному полю с высоким пространственным разрешением. Предложенный метод дает возможность изучать распределение токов в сверхпроводнике в мейсснеровской области магнитных полей и распределение остаточных токов, циркулирующих в образце при захвате магнитного потока. Результаты проведенных экспериментов подтверждают модель критического состояния, согласно которой после выключения внешнего магнитного поля в сверхпроводнике циркулируют пространственно разделенные токи противоположного направления, обусловленные захватом магнитного потока.