Масс-спектрометрическое исследование эмиссии структурного кислорода при воздействии сжимающих напряжений на высокотемпературные сверхпроводники

Методом кинетической масс-спектрометрии исследованы физико-химические процессы, протекающие в ВТСП под действием одноосных сжимающих напряжений. Обнаружен эффект потери структурного кислорода при «докритическом» деформировании и макроскопическом разрушении ВТСП.