Аннотация:
Проведен анализ свойств волнового поля гамма-излучения, формирующегося в кристалле в условиях ядерной резонансной дифракции. Анализ выполнен на основе численного расчета характеристик эмиссии конверсионных электронов из кристалла как функции угла падения излучения на образец. Указана возможность применения угловых зависимостей электронной эмиссии для диагностики нарушений регулярности магнитной структуры образцов.
УДК:
539.12.172,539.12.175
Поступила в редакцию: 06.03.1989 Исправленный вариант: 08.01.1990