Аннотация:
На основании измерений постоянной кристаллической решетки, микротвердости, удельной электропроводности, термоэдс магнитной восприимчивости и микроскопического исследования шлифов делается вывод о наличии в Tm$_{x}$S широкой области гомогенности ($0.9 <x < 1.1\div 1.15$). В области гомогенности определено валентное состояние ионов тулия. Показано, что составы, расположенные в области гомогенности Tm$_{x}$S, по поведению физических характеристик можно отнести к классу концентрированных кондо-систем.