Экспериментальное и теоретическое исследование брэгговского отражения рентгеновских лучей от упругоизогнутрых кристаллов кремния

Методом дифракции по Брэггу рентгеновского Cu$K_{\alpha1}$-излучения на однородноизогнутых монокристаллических пластинах Si были измерены интегральные интенсивности отражений типа 220 и 333. На основании уравнений Такаги–Топэна построено численное решение краевой задачи дифракции на изогнутом кристалле и рассчитаны интегральные коэффициенты отражений. Показано, что теоретические и экспериментальные зависимости нормализованных интегральных интенсивностей $\mathcal{J}_{N}(B)$ для данных отражений хорошо согласуются друг с другом в широком интервале изменения величин градиента деформации в приближении изотропности упругих свойств кристалла.