Зависимость электронно-стимулированной десорбции ионов Li$^{+}$ и Na$^{+}$ от условий формирования пленки кремния на вольфраме

С помощью статического магнитного масс-спектрометра изучена электронно-стимулированная десорбция (ЭСД) ионов Li$^{+}$ и Na$^{+}$ с поверхности W-ленты, покрытой кремнием и подвергшейся температурной обработке. В адсорбционной системе W$-$Si$-$Na, содержащей 1 монослой кремния, в интервале температур 400$-$600 K происходит термическая перестройка субмонослойных пленок Na в более выгодное к ЭСД состояние. Выход ионов Na$^{+}$ возрастает также при наличии на поверхности адсорбента пленок дисилицида вольфрама различной толщины. Отжиг подложки при температурах ${T>1200}$ K вызывает изменение структуры монослойной пленки кремния на вольфраме, приводя к более чем 20-кратному увеличению сечения ЭСД ионов Na$^{+}$. С другой стороны, выход ионов Li$^{+}$ при ЭСД из системы W$-$Si$-$Li малочувствителен к состоянию кремниевой пленки. Полученные зависимости ЭСД могут быть объяснены на основе модели, учитывающей релаксацию локального поля поверхности.