Краткие сообщения

Эффекты деформации фундаментального края дефектами в двухфотонной спектроскопии полупроводников

Р. Балтрамеюнас, В. Гаврюшин, Г. Рачюкайтис, А. Казлаускас, В. Д. Рыжиков, Е. В. Марков, В. А. Теплицкий, М. А. Каменский, В. В. Смирнов

Вильнюсский государственный университет им.  В. Капсукаса

Поступила в редакцию: 09.08.1989
Исправленный вариант: 24.07.1990

Реферативные базы данных:

•