Аннотация:
Произведен расчет частот части нормальных колебаний атомов в кристаллических решетках силленитов Bi$_{12}$SiO$_{20}$, Bi$_{12}$GeO$_{20}$ и Bi$_{12}$TiO$_{20}$ по методу Ельяшевича$-$Вильсона. Проведено сравнение рассчитанных частот с частотами, полученными в эксперименте. Построена кривая зависимости силовой постоянной растяжения связи Bi$-$O от ее длины.