Краткие сообщения

Рентгенодифракционное исследование структуры границы Si$-$NaNO$_{2}$

П. А. Александров, А. А. Нефедов, В. А. Чапланов, С. С. Якимов

Институт атомной энергии им. И. В. Курчатова

Поступила в редакцию: 16.12.1990