Исследование процессов переключения доменной структуры сегнетоэлектрика Sn$_{2}$P$_{2}$S$_{6}$ методом динамической голографии

Предложен и апробирован метод исследования процессов переключения доменной структуры в сегнетоэлектрике Sn$_{2}$P$_{2}$S$_{6}$, обладающем фоторефрактивным эффектом. Метод основан па регистрации интенсивности двухволнового взаимодействия при изменении направления энергопереноса вследствие переполяризации кристалла в среде с нелокальным механизмом фоторефрактивной записи. Проведено сравнение с известными методами. Получена информация о динамике переключения доменов Sn$_{2}$P$_{2}$S$_{6}$ в слабых электрических полях.