Микроконтактная спектроскопия тонких пленок меди

Исследованы характер и причины изменения микроконтактного (МК) спектра электрон-фононного взаимодействия (ЭФВ) пленок меди, полученных термическим испарением при варьировании температуры осаждения и отжига. Длина свободного пробега электронов $l_{i}$ и диаметр $d$ контакта определялись с использованием выражений для сопротивления контакта и абсолютной интенсивности спектра. Показано, что уменьшение длины свободного пробега электронов в пленке $l_{\text{п}}$ сопровождается эволюцией спектра ЭФВ, обусловленной изменением фононного спектра при аморфизации кристаллической структуры и состоящем в уширении поперечного и исчезновении продольного пика. Аналогичное изменение МК спектров с уменьшением $d$ отражает неоднородное распределение примеси и дефектов структуры в пленке. Показано, что с увеличением диаметра $d$ фон растет в соответствии с моделью реабсорбции фононов. Обнаружен рост нулевой аномалии (НА) с уменьшением диаметра $d$. Амплитуда НА не зависела от частоты измерения, что свидетельствует о больших значениях характерных частот соответствующих процессов рассеяния.