Аннотация:
Методами Оже-электронной и $K$-эмиссионной спектроскопии изучены валентные состояния серии образцов стекловидного углерода, отличающихся температурами отжига в интервале 1500$-$3000$^{\circ}$C. Показано, что экспериментальные Оже-спектры отражают энергетическую зависимость плотности состояний. Анализ формы спектров показывает, что при увеличении температуры отжига увеличивается количество межслоевых атомов углерода.