О поверхностных электронных ловушках в ЩГК и кристаллических окислах металлов

При хемосорбции на поверхности твердотельных объектов примесей образуются поверхностные уровни, что приводит к локализации электронов (дырок) и возникновению сил, прочно удерживающих примесь на поверхности. В самом общем случае [1] силы связи, а значит, и глубина ловушки зависят от химической природы подложки и адсорбата. В данной работе описаны эксперименты, в которых глубина ловушки зависит только от природы примеси.