Особенности экситонного спектра в тонких пленках твердых растворов Ag$_{x}$Cu$_{1-x}$I

В тонких пленках твердых растворов Ag$_{x}$Cu$_{1-x}$I исследована зависимость от состава основных параметров экситонных полос: спектрального положения $E_{i}$, энергии спин-орбитального взаимодействия $\Delta_{co}$ и полуширины $\Gamma$. При избранной технологии приготовления пленок (осаждение в вакууме на нагретые до $100^{\circ}$С кристаллические подложки NaCl) в интервале ${0\leqslant x\leqslant0.85}$ формируются пленки со структурой сфалерита при ${x> 0.85}$ — со структурой вюрцита. Концентрационный переход от сфалерита к вюрциту сопровождается скачкообразным увеличением $E_{i}$, $\Delta_{co}$ и $\Gamma$. Зависимость $E_{i}(x)$ и $\Delta_{co}(x)$ объясняется на основании различия в ионности межатомной связи в CuI и AgI с учетом флуктуации состава в разупорядоченных твердых растворах. Показано, что, концентрационный ход $\Gamma(x)$ определяется крупномасштабными флуктуациями состава, вызванными различием в упругости паров CuI и AgI при заданной температуре испарителя. Расчетные зависимости $\Gamma(x)$, выведенные для экситонных $z_{1}$ и $z_{2}$-полос (структура сфалерита) хорошо согласуются с экспериментом и указывают на существенную роль деформационных эффектов в концентрационном уширении экситонных полос.