Аннотация:
Исследованы частотные зависимости тангенса угла диэлектрических потерь $\operatorname{tg}\delta(f)$ и Коул–Коул-диаграммы тонких пленок сульфида серебра при различных температурах в диапазоне 0–200$^\circ$С. Проведено сравнение с экспериментальными данными расчета комплексного импеданса предложенной электрической схемы для Ag$_{2}$S-содержащих образцов до и после температурного фазового перехода полупроводник–суперионик. На основе анализа полученных результатов и литературных данных предложена микроскопическая модель фазового перехода в Ag$_{2}$S.