Формирование изображения краевой дислокации при аномальном прохождении рентгеновского излучения

Рассмотрены особенности формирования изображения секционных и проекционных топограмм краевой дислокации перпендикулярной поверхности кристалла в случае аномального прохождения рентгеновского излучения. Экспериментальные изображения анализируются с использованием численного моделирования дифракционного эксперимента. Предложен новый механизм формирования изображения дефектов расположенных вблизи выходной поверхности кристалла. Отмечены отличия топографических изображений дислокации от розеток локальных разориентаций отражающих плоскостей.