Аннотация:
Проведены исследования методом ЯМР $^{125}$Te топологического изолятора теллурида висмута Bi$_{2}$Te$_{3}$ в широком диапазоне от комнатной температуры до 12.5 K. Измерения проводились на импульсном ЯМР-спектрометре Bruker Avance 400. Спектры ЯМР были получены для порошка, приготовленного из монокристалла Bi$_{2}$Te$_{3}$, и для монокристаллических пластин в ориентациях $c\parallel\mathbf{B}$ и $c\perp\mathbf{B}$. Спектры при комнатной температуре состояли из двух линий, которые были отнесены к двум неэквивалентным позициями ядер теллура Te1 и Te2. Параметры тензора сдвига частоты ЯМР были найдены из спектра для порошка. Температурные зависимости спектров для порошка и пластин в ориентации $c\perp\mathbf{B}$ согласовывались между собой. Изменения положения линий с понижением температуры объяснялись уменьшением сдвига Найта. Была оценена энергия термоактивации носителей заряда. Спектры для пластин в ориентации $c\parallel\mathbf{B}$ демонстрировали особенности ниже 91 K. Измерены времена спин-решеточной релаксации для порошка и монокристаллических пластин в обеих ориентациях при комнатной температуре.