RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 2017, том 59, выпуск 10, страницы 2032–2036 (Mi ftt9439)

Физика поверхности, тонкие пленки

Исследование валентного перехода в системе О$_{2}$–Yb–Si(111) с помощью метода фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением

М. В. Кузьмин, М. А. Митцев

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: С помощью метода фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением проведены исследования структур Yb-Si(111) и O$_{2}$–Yb–Si(111) и получены данные о распределение двух- и трехвалентных ионов в нанопленках иттербия в случае, когда адсорбированный слой молекул на их поверхности еще не полностью сформирован и валентный переход Yb$^{2+}$ $\to$ Yb$^{3+}$ не завершен. Показано, что распределение ионов Yb$^{2+}$ и Yb$^{3+}$ вглубь нанопленок близко к изотропному и что его протяженность составляет 9 или более монослоев. Полученные результаты свидетельствуют о том, что в формировании 5$d$-зоны иттербия, стимулированном адсорбированными молекулами, участвуют все атомы нанопленки, подтверждая предположения, сделанные в более ранних публикациях.

Поступила в редакцию: 30.03.2017

DOI: 10.21883/FTT.2017.10.44976.106


 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2017, 59:10, 2058–2062

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024