Аннотация:
Методами атомно-силовой микроскопии, резерфордовского и нейтронного рассеяния изучены тонкие пленки полисилоксанового полиблочного блок-сополимера и их композитов с модифицирующей добавкой фуллерена C$_{60}$. Методом атомно-силовой микроскопии показано, что при введении добавок фуллерена в объем полимерной матрицы первоначальный рельеф поверхности пленки нивелируется тем значительней, чем больше добавка. Такая тенденция связана с процессами самоорганизации последовательностей жесткого блока, которые инициируются полевым воздействием поверхности агрегатов фуллерена и приводят к росту числа их доменов в объеме полимерной матрицы. Данные резерфордовского и нейтронного рассеяния свидетельствуют о формировании дополнительных структур радиусом 60 nm только в пленках, содержащих фуллерен, причем их доля растет с увеличением концентрации фуллеренa. Сопоставительный анализ данных этих методов показал, что такие структуры представляют собой именно домены жесткого блока и не формированы индивидуальными агрегатами фуллерена. Рассмотрена взаимосвязь структуры и механических свойств пленок полимера.
Поступила в редакцию: 25.07.2016 Исправленный вариант: 16.02.2017