RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 2016, том 58, выпуск 12, страницы 2369–2371 (Mi ftt9743)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Сегнетоэлектричество

Энергетический спектр электронных центров прилипания в CuInAsS$_{3}$

Е. М. Зобовa, А. Ю. Моллаевa, Л. А. Сайпулаеваa, А. Г. Алибековa, Н. В. Мельниковаb

a Институт физики им. Х. И. Амирханова ДНЦ РАН, Махачкала, Россия
b Институт естественных наук, Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б. Н. Ельцина, Екатеринбург

Аннотация: Представлены результаты исследования энергетического спектра электронных состояний, обусловленных центрами прилипания, роль которых в CuInAsS$_{3}$ играют дефекты кристаллической решетки. Результаты анализа кривых термостимулированного тока в CuInAsS$_{3}$ показывают, что энергетический спектр центров прилипания локализован под дном зоны проводимости в интервале энергий $E_{C}$–(0.14–0.35) eV.

Поступила в редакцию: 10.05.2016


 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2016, 58:12, 2457–2459

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024