Аннотация:
Представлены результаты исследования энергетического спектра электронных состояний, обусловленных центрами прилипания, роль которых в CuInAsS$_{3}$ играют дефекты кристаллической решетки. Результаты анализа кривых термостимулированного тока в CuInAsS$_{3}$ показывают, что энергетический спектр центров прилипания локализован под дном зоны проводимости в интервале энергий $E_{C}$–(0.14–0.35) eV.