Аннотация:
Разработана и оптимизирована топология тонкопленочных СКВИД-датчиков на базе туннельных переходов Nb/AlO$_{x}$/Nb для создания на их основе систем неразрушающего контроля материалов и других диагностических систем, обладающих чувствительностью по магнитному полю $<$ 10 fT/Hz$^{1/2}$.