RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 2016, том 58, выпуск 11, страницы 2203–2207 (Mi ftt9789)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Полупроводники

Особенности формирования эпитаксиальных слоев InAsSbP на подложке InAs методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений

К. Д. Моисеевa, В. В. Романовa, Ю. А. Кудрявцевb

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Отделение твердотельной электроники Центра исследований и передового обучения Национального политехнического института, Мехико, Мексика

Аннотация: Эпитаксиальные слои в системе твердых растворов InAs$_{1-x-y}$Sb$_{y}$P$_{x}$ в диапазоне составов 0 $<x<$ 0.72 получены на подложке InAs(001) методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений (МОГФЭ). Послойный анализ полученных структур с помощью метода масс-спектрометрии вторичных ионов показал градиентное изменение состава вдоль направления наращивания. Резкое изменение состава на гетерогранице слой/подложка наблюдалось для четверных твердых растворов InAsSbP благодаря присутствию радикалов соединений мышьяка в газовой фазе. При эпитаксиальном наращивании на подложку InAs в системе твердых растворов InAsSbP методом МОГФЭ уменьшение содержания мышьяка в твердой фазе менее $(1-x-y)<$ 0.3 приводило к подавлению градиентности осаждаемого слоя, а также и подавлению колебаний состава в начальном переходном слое.

Поступила в редакцию: 18.05.2016


 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2016, 58:11, 2285–2289

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024