Особенности кинетики электрического разрушения полимеров

Исследована кинетика электрического разрушения (пробоя) полимерных пленок толщиной 20–50 $\mu$m в постоянном по знаку поле при 77–300 K и напряженностях поля 0.5–0.6 GV/m. При повышенных температурах (250–300 K) имеют место экспоненциальная зависимость долговечности от температуры и надбарьерный термофлуктуационный механизм выхода электронов из ловушек – накоплениe объемного заряда, ведущего к пробою. При низких температурах (77–200 K) на атермическом уровне долговечности имеются отдельные, локальные снижения долговечности (минимумы). Обнаружено совпадение температур минимумов долговечности и максимумов измеренной термолюминесценции полимеров. Сделан вывод о механизме термостимулированного туннелирования (подбарьерного выхода) электронов из ловушек.