Структура и свойства напыленных пленок в композиционных образцах SiO$_{2}$/YSZ/CeO$_{2}$/YBa$_{2}$Cu$_{3}$O$_{y}$

Методом лазерной абляции изготовлен композиционный сверхпроводник SiO$_{2}$/YSZ/CeO$_{2}$/YBa$_{2}$Cu$_{3}$O$_{y}$ с критической плотностью тока 7 $\cdot$ 10$^{4}$ A/cm$^{2}$. Методом сканирующей электронной микроскопии на поверхности напыленных пленок обнаружены бугорки, обогащенные медью и кислородом. С помощью просвечивающей электронной микроскопии в сверхпроводящей пленке обнаружена зеренная структура (размеры 0.2–0.3 $\mu$m) с хорошими контактами по границам, а также системы двойников шириной $\sim$400 $\mathring{\mathrm{A}}$. Такая структура пленки вместе с высокой текстурой (001) обеспечивает указанную критическую плотность тока.