Аннотация:
Анализируется проблема устойчивости самосинхронных (СС) схем, изготовленных по технологии комплементарный металл–диэлектрик–полупроводник (КМДП), к кратковременным логическим сбоям (ЛС), генерируемым внешними воздействиями: ядерными частицами, космическими лучами, электромагнитными наводками. Практические СС-схемы реализуются в виде конвейера с запрос-ответным взаимодействием между его ступенями и двухфазной дисциплиной работы с чередованием рабочей фазы и спейсера. Комбинационная часть ступени конвейера использует парафазное со спейсером кодирование информационных сигналов. Индикаторная подсхема ступени конвейера подтверждает окончание переключения всех элементов ступени, возбужденных в текущей фазе работы, и формирует сигналы управления запрос-ответным взаимодействием ступеней конвейера. Рассмотрены физические причины появления ЛС и проанализированы типы сбоев, возможных в КМДП-СС-схемах с проектными нормами 65 нм и ниже. Сравниваются характеристики сбоеустойчивости разных вариантов СС-регистров хранения. Предлагаются схемотехнические и топологические методы повышения сбоеустойчивости СС-конвейера. Даются оценки сбоеустойчивости СС-конвейера в зависимости от места появления ЛС.