М. И. Алиев, Н. Н. Гаджиева, Г. Б. Ахмедова, “Микроскопическое исследование рельефа поверхности композитов на основе полиэтилена высокой плотности и наполнителей GaAs и GaAs<TE>”, Междунар. науч.-исслед. журн., 2015, выпуск 6-2(37),страницы 8

ФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКИЕ НАУКИ

Микроскопическое исследование рельефа поверхности композитов на основе полиэтилена высокой плотности и наполнителей GaAs и GaAs<TE>

М. И. Алиев^a, Н. Н. Гаджиева^b, Г. Б. Ахмедова^a

^a Институт физики НАН Азербайджана
^b Институт радиационных проблем НАН Азербайджана

Аннотация: Методом атомно-силовой микроскопии исследована морфология поверхности композитных пленок ПЭВП-х GaAs и ПЭВП-х GaAs<Te> (х=1-10 масс%). Показано, что модификация рельефа поверхности композитных пленок зависит от вида и концентрации вводимого наполнителя. Установлено, что при значениях х=2-6 масс% происходит структурирование поверхности с максимальной степенью кристалличности.

Ключевые слова: композитные пленки, атомно-силовая микроскопия (АСМ), трехмерные изображения (3D), гистограммы.