Методы оценки локальных фрактальных свойств изображений микроструктур

В данной работе рассматриваются методы фрактального анализа и фильтрации микроструктур на электронно-микроскопических изображениях. Предложены методы оценки локальных фрактальных свойств изображений микроструктур. Первый метод использует в качестве фрактальной меры площадь покрытия, рассчитываемую процедурой триангуляции в скользящем окне. Второй метод позволяет оценить фрактальные свойства по структурной функции изображения и основан на показателе Херста, рассчитываемом, как тангенс угла наклона регрессионной кривой к структурной функции.