Байесовская сегментация изображений наноструктур

В данной работе проведено исследование по применению байесовской сегментации на основе распределения Гиббса для визуализации наноструктур на электронно-микроскопических изображениях. Алгоритм байесовской сегментации заключается в разбиении изображения на неперекрывающиеся области, которое в наибольшей степени соответствует наблюдаемому изображению. Количественной характеристикой этого разбиения является апостериорная вероятность того или иного варианта сегментации. Наиболее вероятным будет такое разбиение изображения, апостериорная вероятность которого максимальна.