Аннотация:
Приведены результаты моделирования электронно-микроскопических изображений наноструктур в аморфных металлических ставах (АМС). Моделирование структуры аморфной матрицы и пространственного распределения нанокластеров в двухкомпонентпых аморфных ставах состава Fe80B20 осуществлялось методом Ишикава. Для моделирования структуры многокомпонентных АМС разработаны корреляционно-спектральные модели аморфной матрицы и нанокластеров. При моделировании прохождения электронной волны через образец использовался слоевой метод, а для "визуализации" изображений - моделировались оптические схемы высокоразрешающих электронных микроскопов.