RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Интеллектуальные системы. Теория и приложения // Архив

Интеллектуальные системы. Теория и приложения, 2021, том 25, выпуск 4, страницы 157–160 (Mi ista439)

Часть 2. Математика и компьютерные науки

Улучшение верхней оценки функции Шеннона длины единичных диагностических тестов относительно инверсных неисправностей

И. Г. Любич

PAREXEL

Аннотация: Доказано, что в произвольном полном базисе любую булеву функцию можно реализовать неизбыточной схемой из функциональных элементов, допускающей диагностический тест длины не более 3 при инверсных неисправностях на выходах элементов.

Ключевые слова: схема из функциональных элементов, единичный диагностический тест, инверсная неисправность на выходе элемента, функция Шеннона, легкотестируемая схема.



© МИАН, 2024