RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Интеллектуальные системы. Теория и приложения // Архив

Интеллектуальные системы. Теория и приложения, 2021, том 25, выпуск 4, страницы 161–165 (Mi ista440)

Часть 2. Математика и компьютерные науки

О k-диагностических тестах относительно инверсных неисправностей элементов

И. Г. Любичa, Д. С. Романовb

a PAREXEL
b МГУ имени М.В. Ломоносова

Аннотация: Доказано, что любую булеву функцию можно реализовать k-неизбыточной схемой из функциональных элементов в некотором конечном полном базисе, допускающей k-диагностический тест длины не более 2 при инверсных неисправностях на выходах элементов.

Ключевые слова: схема из функциональных элементов, тест, инверсная неисправность на выходе элемента, функция Шеннона.



© МИАН, 2024