Аннотация:
В данной работе представлен метод обнаружения объектов на изображениях микроскопии, сфокусированный на поиске частиц. Основная цель исследования заключается в разработке алгоритма, способного эффективно находить множественные экземпляры объектов в различных сценариях, сохраняя при этом специфичность для структур интереса. Алгоритм базируется на использовании экстремальных областей в качестве кандидатов для обнаружения с последующей оценкой этих областей при помощи обученных параметров. Одним из ключевых элементов алгоритма является встроенное ограничение на неперекрытие, что позволяет ему эффективно обрабатывать кластеризацию частиц. Результаты экспериментов на различных наборах микроскопических данных подтверждают устойчивость метода к изменениям в интенсивности изображений, плотности и размеров частиц. Данный алгоритм является полезным инструментом для разработки методов обнаружения объектов на изображениях микроскопии и может быть применен в научных и медицинских исследованиях.
Ключевые слова:
обнаружение объектов, изображения микроскопии, частицы, экстремальные области, ограничение на неперекрытие.
УДК:
004.932
Поступила в редакцию: 10.04.2024 Принята в печать: 15.11.2024