Эта публикация цитируется в
1 статье
Математика
Почти контактные метрические структуры, определяемые симплектической связностью над распределением
С. В. Галаев,
Ю. В. Шевцова Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского
Аннотация:
Распределение
$D$ почти контактной метрической структуры
$(\varphi,\vec\xi,\eta,g)$ является нечетным аналогом касательного расслоения. В предлагаемой работе строится внутренняя симплектическая связность, естественным образом ассоциированная с исходной почти контактной метрической структурой. Внутренняя связность задает параллельный перенос допустимых векторов (т. е. векторов, принадлежащих распределению
$D$) вдоль допустимых кривых. Всякая соответствующая ей продолженная связность является связностью в векторном расслоении
$(D,\pi,X)$, определяемой внутренней связностью и эндоморфизмом
$N:D\to D$. От выбора эндоморфизма
$N:D\to D$ зависят свойства продолженной связности и, как следствие, свойства почти контактной метрической структуры, возникающей на пространстве
$D$ векторного расслоения
$(D,\pi,X)$. Показывается, что так же как и расслоение
$TTX$, касательное расслоение
$TD$, благодаря заданию связности над распределением (а затем и
$N$-продолженной связности — связности в векторном расслоении
$(X,D)$), расщепляется в прямую сумму вертикального и горизонтального распределения. Тем самым, на распределении
$D$ естественным образом определяется (продолженная) почти контактная метрическая структура. Исследуются свойства продолженной структуры. В частности, доказывается, что продолженная почти контактная метрическая структура почти нормальна тогда и только тогда, когда распределение
$D$ является распределением нулевой кривизны.
Ключевые слова:
контактная структура, почти контактная метрическая структура, внутренняя симплектическая связность, продолженная симплектическая связность, почти контактное кэлерово пространство.
УДК:
514.76
DOI:
10.18500/1816-9791-2015-15-2-136-141