Аннотация:
Разработана численная методика определения вторично-эмиссионных свойств пленочных алмазографитовых нанокомпозитов по яркости изображений в зависимости от величины положительного потенциала на сетке детектора сканирующего электронного микроскопа. С использованием разработанной методики проведена оценка вторичноэмиссионных свойств наноуглеродных пленочных структур, полученных в различных режимах микроволнового плазмохимического осаждения. Показана перспективность применения в безнакальных источниках электромагнитных излучений различной выходной мощности СВЧ и субтерагерцового диапазонов частот, взамен металлических, наноуглеродных автокатодов, которые устраняют необходимость в использовании для этих целей традиционных вторично-эмиссионных катодов на основе сложных композиционных материалов с расходуемыми активными примесями.