Сила Ван-дер-Ваальсова притяжения зонда АСМ к плоской поверхности, покрытой диэлектриком

В аддитивном приближении получено выражение для силы Ван-дер-Ваальсова притяжения зонда атомно-силового микроскопа к гладкой плоской поверхности, покрытой диэлектриком. По результатам расчета можно сделать вывод, что наличие диэлектрических пленок в значительной степени влияет на величину силы взаимодействия и приводит к возрастанию роли протяженной части зонда при малых расстояниях между зондом и образцом.