Аннотация:
Предложен метод абсолютного измерения спектральной яркости излучения терагерцового диапазона
в процессе параметрического преобразования в оптический диапазон. Метод характеризуется низким пороговым потоком, не требует использования эталонов. Одновременно метод позволяет провести калибровку тепловых флуктуаций поля и абсолютным образом установить локальную температуру нелинейного кристалла-преобразователя.