RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики // Архив

Письма в ЖЭТФ, 2010, том 92, выпуск 10, страницы 757–761 (Mi jetpl1472)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

КОНДЕНСИРОВАННЫЕ СРЕДЫ

Твердофазные реакции в Ga/Mn тонких пленках: формирование $\phi$-Ga$_{7.7}$Mn$_{2.3}$ фазы и ее магнитные свойства

В. Г. Мягковab, В. С. Жигаловab, Л. Е. Быковаb, Л. А. Соловьевac, Г. С. Патринbd, Д. А. Великановbd

a Сибирский государственный аэрокосмический университет им. М. Ф. Решетнева, Красноярск, Россия
b Институт физики им. Л. В. Киренского Сибирского отд. РАН, Красноярск, Россия
c Институт химии и химической технологии Сибирского отд. РАН, Красноярск, Россия
d Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия

Аннотация: Представлены экспериментальные результаты исследования твердофазного синтеза $\phi$-Ga$_{7.7}$Mn$_{2.3}$ фазы в Ga/Mn пленках. Ферромагнитное (или ферримагнитное) состояние образцов наблюдается при температуре отжига выше $250^\circ$C. Рентгеноструктурные измерения показывают формирование $\phi$-Ga$_{7.7}$Mn$_{2.3}$ фазы, которая растет поликристаллической на стеклянных подложках и “куб на куб” преимущественной ориентацией на MgO(001). Установлена сильная зависимость констант перпендикулярной $K_{\bot}$ и эффективной плоскостной двухосной $K_1^{\rm eff}$ анизотропий от магнитного поля $H$. Вследствие этого с увеличением величины магнитного поля выше $8$ кЭ легкая ось намагничивания меняет направление из плоскости к нормали пленки. Аномальное поведение констант $K_{\bot}$ и $K_1^{\rm eff}$ объясняется созданием плоскостных напряжений во время формирования $\phi$-Ga$_{7.7}$Mn$_{2.3}$ фазы и прямой зависимостью постоянных магнитострикции от величины магнитного поля. Определена намагниченность насыщения $M_S$ и дана оценка первой константы $K_1$ магнитокристаллической анизотропии $\phi$-Ga$_{7.7}$Mn$_{2.3}$ фазы.

Поступила в редакцию: 15.10.2010


 Англоязычная версия: Journal of Experimental and Theoretical Physics Letters, 2010, 92:10, 687–691

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024