Метод сканирующей оптической ближнепольной микроскопии на основе усиленного комбинационного рассеяния света

Предлагается метод оптической ближнепольной микроскопии, в котором молекула-зонд взаимодействует с образцом, например с плоской поверхностью металла в поле внешнего оптического излучения. Рассматривается спонтанное комбинационное рассеяние света, которое в присутствие металлической поверхности характеризуется эффективной поляризуемостью молекулы-зонда, зависящей от частоты и расстояния до поверхности. Показано, что при определенных расстояниях от молекулы-зонда до поверхности при учете поляризующего влияния поверхности полубесконечной среды эффективная поляризуемость молекулы-зонда на стоксовой частоте резко возрастает по сравнению с квантовой поляризуемостью изолированной молекулы, что указывает на образование оптических ближнепольных резонансов. Показано, что предлагаемый метод оптической ближнепольной микроскопии обладает высокой чувствительностью и пространственной разрешающей способностью порядка 1 Å.