Визуализация электронных орбиталей в сканирующей туннельной микроскопии

Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) является одной из основных методик прямой визуализации электронной структуры поверхности и химического анализа многокомпонентных поверхностей на атомном уровне. В обзоре представлены результаты, демонстрирующие роль орбитальной структуры острия и взаимодействия атомов зонда и поверхности в формировании СТМ-изображений с пикометровым пространственным разрешением. Показана возможность создания зондов с известной структурой острия и селективной визуализации отдельных электронных орбиталей в СТМ-экспериментах с контролируемыми величиной туннельного промежутка и структурой зонда.