Аннотация:
В работе предлагается спектроскопический метод для
исследования околоконденсатных мод экситон-поляритонов в высокодобротных
планарных
полупроводниковых микрорезонаторах. Показано, что в условиях
когерентной внешней накачки переход к верхнему устойчивому состоянию
оптически бистабильного конденсата сопровождается возбуждением
околоконденсатных мод. Они проявляются в виде двухчастотных
переходных осцилляций плотности конденсата при перескоке системы на
верхнюю ветвь бистабильной зависимости плотности от накачки.
Спектральный анализ этих осцилляций с временным разрешением
позволяет получить информацию о взаимодействиях в системе и эволюции
плотности экситон-поляритонного конденсата.