Аннотация:
Исследован эффект двухкристальной фокусировки нейтронов при дифракции по Лауэ на больших совершенных кристаллах кремния. Показано, что эффект фокусировки позволяет достичь углового разрешения лучше $0.03''$, что составляет ${\sim}\,10^{-2}$ от ширины брэгговского отражения. Данное обстоятельство позволяет создать новый ультрапрецизионный метод нейтронной спектрометрии, основанный на методике спин-эхо малоуглового рассеяния нейтронов в комбинации с дифракцией по Лауэ.